GB/T 4058-1995

Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers

NORM herausgegeben am 18.4.1995

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (387.60 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 4058-1995
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 18.4.1995
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB