GB/T 41751-2022

Test method for radius of curvature of crystal plane in GaN single crystal substrate wafers

NORM herausgegeben am 12.10.2022

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (195.10 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 41751-2022
Publication date standards: 12.10.2022
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB