GB/T 42709.29-2026

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin films under room temperature

NORM herausgegeben am 28.8.2026

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 42709.29-2026
Anmerkung: Execute Date: march 2027
Ausgabedatum normen: 28.8.2026
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB