GB/T 42907-2023

Test method for excess-charge-carrier recombination lifetime in silicon ingots, silicon bricks and silicon wafers—Noncontact eddy-current sensor

NORM herausgegeben am 6.8.2023

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (358.00 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 42907-2023
Ausgabedatum normen: 6.8.2023
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB