GB/T 43226-2023

Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

NORM herausgegeben am 7.9.2023

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (194.10 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 43226-2023
Ausgabedatum normen: 7.9.2023
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB