
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
NORM herausgegeben am 18.7.2006
Bezeichnung normen: GB/T 4326-2006
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 18.7.2006
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB