GB/T 45716.1-2026

Semiconductor devices—Bias-temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)—Part 1: Fast bias-temperature instability test for MOSFETs

NORM herausgegeben am 30.4.2026

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (477.20 EUR)

English, Chinesisch -

Gedruckt (477.20 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 45716.1-2026
Ausgabedatum normen: 30.4.2026
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB