GB/T 45716-2025

Semiconductor devices—Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)

NORM herausgegeben am 30.5.2025

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 45716-2025
Anmerkung: Execute Date: september 2025
Ausgabedatum normen: 30.5.2025
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB