GB/T 45718-2025

Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

NORM herausgegeben am 30.5.2025

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (402.00 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 45718-2025
Ausgabedatum normen: 30.5.2025
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB