GB/T 45720-2025

Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

NORM herausgegeben am 30.5.2025

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (487.90 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 45720-2025
Ausgabedatum normen: 30.5.2025
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB