GB/T 45721.1-2025

Semiconductor devices—Stress migration test—Part 1: Copper stress migration test

NORM herausgegeben am 30.5.2025

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (573.90 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 45721.1-2025
Ausgabedatum normen: 30.5.2025
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB