GB/T 46717-2025

Semiconductor devices—Metallization stress void test

NORM herausgegeben am 31.10.2025

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (380.50 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 46717-2025
Ausgabedatum normen: 31.10.2025
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB