GB/T 47082-2026

Test method for stacking faults of polished monocrystalline silicon carbide wafers

NORM herausgegeben am 28.1.2026

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (170.50 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 47082-2026
Ausgabedatum normen: 28.1.2026
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB