
Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8: Test method for stretchability, flexibility and stability of flexible resistive memory
NORM herausgegeben am 27.2.2026
Bezeichnung normen: GB/T 47239.8-2026
Ausgabedatum normen: 27.2.2026
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB