GB/T 47239.9-2026

Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells

NORM herausgegeben am 27.2.2026

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 47239.9-2026
Anmerkung: Execute Date: september 2026
Ausgabedatum normen: 27.2.2026
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB