GB/T 47625-2026

Fine ceramics—Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam

NORM herausgegeben am 25.5.2026

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 47625-2026
Anmerkung: Execute Date: december 2026
Ausgabedatum normen: 25.5.2026
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB