GB/T 48164.1-2026

Semiconductor devices—Reliability test method for silicon carbide metal-oxide semiconductor field effect transistors (SiC MOSFET)—Part 1: Test method for bias temperature instability

NORM herausgegeben am 28.8.2026

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 48164.1-2026
Anmerkung: Execute Date: march 2027
Ausgabedatum normen: 28.8.2026
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB