GB/T 48168-2026

Semiconductor devices—Reliability test method by inductive load switching stress for gallium nitride(GaN) transistors

NORM herausgegeben am 28.8.2026

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (336.00 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 48168-2026
Anmerkung: Execute Date: march 2027
Ausgabedatum normen: 28.8.2026
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB