GB/T 4937.38-2025

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

NORM herausgegeben am 2.12.2025

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (308.80 EUR)

English, Chinesisch -

Gedruckt (308.80 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 4937.38-2025
Publication date standards: 2.12.2025
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB