GB/T 4937.40-2025

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 40: Board level drop test method using a strain gauge

NORM herausgegeben am 31.12.2025

English, Chinesisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 4937.40-2025
Ausgabedatum normen: 31.12.2025
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB