GB/T 6617-1995

Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NORM herausgegeben am 18.4.1995

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (342.00 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 6617-1995
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 18.4.1995
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB