GB/T 6617-2009

Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe

NORM herausgegeben am 30.10.2009

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (198.90 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 6617-2009
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB