GB/T 6620-1995

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NORM herausgegeben am 18.4.1995

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (298.50 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 6620-1995
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 18.4.1995
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB