IEC 60748-11-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11-1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

NORM herausgegeben am 1.4.1992

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 60748-11-1-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 1.4.1992
Zahl der Seiten: 71
Gewicht ca.: 213 g (0.47 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Die Annotation des Normtextes IEC 60748-11-1-ed.1.0 :

The purpose of these tests is to check the internal materials, construction and workmanship of integrated circuits for compliance with the requirements of the applicable specification. Le but de ces essais est de verifier la conformite aux exigences de la specification applicable des materiaux internes utilises, de la fabrication et de lassemblage des circuits integres.