
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
NORM herausgegeben am 30.1.2003
Bezeichnung normen: IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.1
Anmerkung: Korrektur
Ausgabedatum normen: 30.1.2003
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC