IEC 60749-16-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

NORM herausgegeben am 17.1.2003

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 60749-16-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 17.1.2003
Zahl der Seiten: 13
Gewicht ca.: 39 g (0.09 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Die Annotation des Normtextes IEC 60749-16-ed.1.0 :

Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills). Definit un essai permettant de detecter la presence de particules libres a linterieur dun dispositif a cavite, comme des particules de ceramique, des elements de fil de liaison ou des boules de brasure (granules).