IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

NORM herausgegeben am 28.7.2010

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 28.7.2010
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC