
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
NORM herausgegeben am 25.9.2012
Bezeichnung normen: IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 25.9.2012
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC