
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
NORM herausgegeben am 13.8.2003
Bezeichnung normen: IEC 60749-31-ed.1.0/Cor.1
Anmerkung: Korrektur
Ausgabedatum normen: 13.8.2003
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.