IEC 60749-32-ed.1.0

Annotation of standard text IEC 60749-32-ed.1.0 :

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres), cet essai determine si le dispositif prend feu en raison dune chaleur exterieure. Lessai est pratique avec un bruleur-aiguille, simulant leffet de petites flammes pouvant resulter de mauvaises conditions apparaissant dans lequipement contenant le dispositif. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.