
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
NORM herausgegeben am 1.1.1983
Bezeichnung normen: IEC 60759-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 1.1.1983
Zahl der Seiten: 97
Gewicht ca.: 322 g (0.71 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Donne les methodes dessais normalises des spectrometres denergie X a semicteur constitues dun semicteur et de lelectronique de traitement du signal lies par une interface a un analyseur damplitude couple a un calculateur.