IEC 62047-40-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold

NORM herausgegeben am 3.9.2021

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 62047-40-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 3.9.2021
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Die Annotation des Normtextes IEC 62047-40-ed.1.0 :

IEC 62047-40:2021(E) specifies the test conditions and methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold. This document applies to normally open micro-electromechanical inertial shock switch.