IEC 62373-ed.1.0

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

NORM herausgegeben am 18.7.2006

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 62373-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 18.7.2006
Zahl der Seiten: 27
Gewicht ca.: 81 g (0.18 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Die Annotation des Normtextes IEC 62373-ed.1.0 :

Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) Fournit une procedure dessai pour la stabilite de temperature en polarisation (essai BT) des MOSFET (transistor a effet de champ metaloxyde-semiconducteurs)