IEC 62788-1-5-ed.1.0

Annotation of standard text IEC 62788-1-5-ed.1.0 :

IEC 62788-1-5:2016 provides a method for measuring the maximum representative change in linear dimensions of encapsulation sheet material in an unrestricted thermal exposure as might or might not be seen during photovoltaic (PV) module fabrication. Data obtained using this method may be used by encapsulation material manufacturers for the purpose of quality control of their encapsulation material as well as for reporting in product datasheets. Data obtained using this method may be used by PV module manufacturers for the purpose of material acceptance, process development, design analysis, or failure analysis. The contents of the corrigendum of July 2017 have been included in this copy. LIEC 62788-1-5:2016 fournit une methode de mesure de la variation maximale representative des dimensions lineaires des materiaux dencapsulation en couches minces dans le cas dune exposition thermique non limitee qui pourrait se produire au cours de la fabrication de modules photovoltaiques (PV). Les donnees obtenues avec cette methode peuvent etre utilisees par les fabricants de materiaux dencapsulation dans le but dassurer le controle de la qualite de leurs materiaux, et de les consigner dans les fiches techniques de leurs produits. Les donnees obtenues avec cette methode peuvent etre utilisees par les fabricants de modules photovoltaiques a des fins dacceptation des materiaux, delaboration de procedes, danalyse de conception ou danalyse de defaillances. Le contenu du corrigendum de juillet 2017 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.