IEC 62899-503-1-ed.1.0

Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor

NORM herausgegeben am 27.5.2020

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 62899-503-1-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 27.5.2020
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Die Annotation des Normtextes IEC 62899-503-1-ed.1.0 :

IEC 62899-503-1:2020(E) specifies a test method for displacement current measurement (DCM) for printed thin film transistors (TFTs) or organic thin film transistors (OTFTs).