IEC 62951-3-ed.1.0

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging

NORM herausgegeben am 7.11.2018

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 62951-3-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 7.11.2018
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Die Annotation des Normtextes IEC 62951-3-ed.1.0 :

IEC 62951-3:2018(E) specifies the method for evaluating thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging. The thin film transistor is fabricated on flexible substrates, including polyethylene terephthalate (PET), polyimide (PI), elastomer and others. The stress is applied by applying a uniformly-distributed pressure to the flexible substrate using the equipment.