Semiconductor devices - Semiconductor interface for automotive vehicles - Part 4: Evaluation method of data interface for automotive vehicle sensors
NORM herausgegeben am 18.6.2018
Bezeichnung normen: IEC 62969-4-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 18.6.2018
Zahl der Seiten: 39
Gewicht ca.: 117 g (0.26 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC 62969-4:2018 specifies a method of directly fault injection test for automotive semiconductor sensor interface that can be used to support the conformance assurance in the vehicle communications interface. L’IEC 62969-4:2018 specifie une methode d’essai par injection directe de defaut pour l’interface a semiconducteurs des capteurs de vehicules automobiles, pouvant etre utilisee pour assurer la conformite de l’interface de communication du vehicule.