IEC/TR 63133-ed.1.0

Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

NORM herausgegeben am 11.10.2017

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC/TR 63133-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 11.10.2017
Zahl der Seiten: 17
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Die Annotation des Normtextes IEC/TR 63133-ed.1.0 :

IEC TR 63133:2017(E) specifies a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level. The estimated ageing level can be used to improve the reliability of system.