
Interated circuits - Manufacturing line approval - Methodology for technology and failure analysis
NORM herausgegeben am 10.3.2000
    
        Bezeichnung normen: IEC/TS 61945-ed.1.0
                
                
                
               
                Ausgabedatum normen:  10.3.2000
        Zahl der Seiten: 23
Gewicht ca.: 69 g (0.15 Pfund)
        Land:          Internationale technische Norm
        Kategorie: Technische Normen IEC
        
                
              
Gives the methodology for technology and failure analysis in manufacturing integrated circuits. Technology analysis is used to determine the way a component is built by observing it using adequate resolution, which increases progressively with the level of analysis. Decrit la methodologie danalyse technologique et de defaillance au cours de la fabrication des circuits integres. Lanalyse technologique a pour but de determiner la constitution dun composant par des observations utilisant des moyens dont le pouvoir de resolution est progressif avec le degre danalyse. considere.