IEC 62415-ed.1.0

Semiconductor devices - Constant current electromigration test

NORM herausgegeben am 19.5.2010

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 62415-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 19.5.2010
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Die Annotation des Normtextes IEC 62415-ed.1.0 :

IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.