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IEC 63364-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection

NORM herausgegeben am 14.12.2022

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 63364-1-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 14.12.2022
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Die Annotation des Normtextes IEC 63364-1-ed.1.0 :

IEC 63364-1:2022 specifies terms, the test method, and the report of sound variation detection system based on IoT. It provides the evaluation method for each part of the sound variation detection system based on IoT in the block diagram, the characterization parameters, symbols, test setups and the conditions. In addition, this document defines the configuration items and criteria of standard space and firing situation for the quality evaluation measurement of sound field variation detection system with IoT. L’IEC 63364-1:2022 specifie les termes, la methode d’essai et le rapport du systeme de detection de variation acoustique base sur l’IDO. Elle fournit la methode d’evaluation pour chaque partie du systeme de detection de variation acoustique base sur l’IDO dans le schema de principe, les parametres de caracterisation, les symboles, les montages d’essai et les conditions. En outre, le present document definit les elements de configuration et les criteres de l’espace normalise et de la situation d’application de flamme pour la mesure de l’evaluation de la qualite du systeme de detection de variation de champ acoustique avec IDO.