IEEE 1149.7-2009

IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

NORM herausgegeben am 10.2.2010

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEEE 1149.7-2009
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.2.2010
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE