IEEE 1181-1991

IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated- Circuit Process Characterization

NORM herausgegeben am 13.12.1991

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEEE 1181-1991
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 13.12.1991
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE