
Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
NORM herausgegeben am 29.4.2004
Bezeichnung normen: IEEE 1620-2004
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 29.4.2004
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE