IEEE 1620-2008

IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials

NORM herausgegeben am 5.12.2008

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEEE 1620-2008
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 5.12.2008
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE