IEEE 256-1963

IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes

NORM herausgegeben am 20.12.1963

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEEE 256-1963
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 20.12.1963
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE