IEEE 256-1963

IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes

NORM herausgegeben am 20.12.1963

Englisch -
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The information about the standard:

Designation standards: IEEE 256-1963
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 20.12.1963
Approximate weight : 300 g (0.66 lbs)
Country: International technical standard
Kategorie: Technische Normen IEEE