IEEE 300-1969

USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)

NORM herausgegeben am 30.11.1968

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEEE 300-1969
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.11.1968
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE