IEEE 300-1988

IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

NORM herausgegeben am 29.12.1988

Englisch -
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The information about the standard:

Designation standards: IEEE 300-1988
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 29.12.1988
Approximate weight : 300 g (0.66 lbs)
Country: International technical standard
Kategorie: Technische Normen IEEE