IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components
NORM herausgegeben am 31.8.2010
Bezeichnung normen: IEEE C62.35-2010
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 31.8.2010
Zahl der Seiten: 26
Gewicht ca.: 78 g (0.17 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE