IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components--Corrigendum 1
NORM herausgegeben am 12.12.2018
Bezeichnung normen: IEEE C62.35-2010/Cor 1-2018
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 12.12.2018
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE